ロジックＩＣチェッカ(ソフト)

ロジックＩＣチェッカ(ソフト解説)

・リセット状態: リセット状態とは、電源投入またはリセットボタンを押してから待機状態になるまでをいいます。
１秒間ファームウェアのバージョンを７セグＬＥＤ(以下７セグ)に表示します。
また、緑ＬＥＤ・赤ＬＥＤの順に点灯します。(ハードウェアチェック)
この後に００００を７セグに表示し待機状態になります。

・待機状態: 待機状態とは、リセット状態が終了またはチェックまたは設定が終了し何もしていない状態をいいます。
７セグには、最後に試験したＩＣの番号が表示されています。
この状態で設定ボタンを押すと、７セグの数値が点滅し被試験ＩＣＮｏの設定ができます。

・設定状態: 設定状態とは、待機状態で設定ボタンを押し７セグの数値が点滅している状態をいいます。
このときに被試験ＩＣＮｏの千の位～一の位の変更ができます。各位は独立に変更できます。
各桁対応のボタンを押すと１増えます。９までいくと０に戻ります。
　　７４シリーズ:７４を取った数値を設定します。右づめで前側は０にします。(７４３２→００３２)
　　４０００・４５００シリーズ:そのまま設定する。
再度設定ボタンを押すと、被試験ＩＣＮｏが確定され点滅が止まります。

・チェック状態: チェック状態とは、待機状態でスタートスイッチを押し被試験ＩＣにＶｃｃを印加しチェックしている状態をいいます。この状態のときにはデバイスの抜き差しを行ってはいけません。チェックが終了すると、ＯＫ(緑)またはＮＧ(赤)のＬＥＤが２秒間点灯し待機状態になります。

・拡張状態: 拡張状態とは、通信ポートを通じて制御ができる状態です。リセット状態のときのスライドスイッチの状態で決定します。左側になっていると、拡張状態になります。この状態ではボタン操作が無効になります。７セグの表示は、セグメントＤのみの点灯となります。

・隠し機能: 隠し機能は、通信ポートを通じてチェック中の各状態が見れます。リセット状態のときに千と百の設定ボタンが押されていると、バージョン番号の代わりにセグメントＧが点灯します。待機状態からは通常と同じですが、チェック状態のときに通信ポートより情報が吐き出されます。通常は使用しませんので、解説は省きます。

・デバイスエントリテーブル: このチェッカでは、デバイスのチェックに２段階を踏んでいます。被試験ＩＣの登録・未登録およびチェックデータの先頭位置を示す数値の検索(デバイスエントリテーブル)と、実際のチェックデータ(チェックベクタ)の通りに入出力を決定し、期待値と比較する部分があります。
デバイスエントリテーブルは構造体の配列で、およそ以下のようになっています。
{ 0, TTL000 }, { 1, TTL001 }, ...
前側が被試験ＩＣ番号、後ろ側が定義されているチェックベクタ先頭位置です。チェックベクタ先頭位置はさらに| EXT(3BIT) | INV(1BIT) | VECTORENTRY(12BIT) |というビット構成をしており、似た構造を持つ被試験ＩＣ間でチェックベクタの共通化をすることでデータ部のサイズを落としています。
ＥＸＴは３ビットで構成され、３ステートなどの付加ベクタの数を表します。これにより似ているＩＣ(たとえば７４００と７４０３)間で、片方は通常のチェックのみ、もう片方はさらにオープンコレクタのチェックを付加というように、通常チェック部分の共通化ができます。
ＩＮＶは１ビットで構成され、入力を反転して判定します。これにより７４００と７４０８のように出力のみ論理が反転しているＩＣ間でチェックベクタの共通化が図れます。
ＶＥＣＴＯＲＥＮＴＲＹは１２ビットで構成され、チェックベクタの先頭位置を示します。
TTL000は配列の先頭にあるので、０という値が定義されています。TTL003だと「TTL000+EXT_2(２という値)」が定義されています。TTL000の位置が先頭で、さらに２個の追加チェックがあるという意味になります。

・チェックベクタ: チェックベクタは３０バイトのデータで一回分のチェックデータを表します。
このチェックベクタはかなり容量を食っています。が、ＲＯＭ容量が腐るほどあるのでデータの読みやすさを優先してみました。たとえば、７４００は以下のようになっています。

{ "041401XXXXX00H00HH00H00VXXXXX" },  /* ７４００試験一回目,チェックは４回,１４ピンデバイス */
{ "--0001XXXXX10H10HH10H10VXXXXX" },  /* 二回目 */
{ "--0001XXXXX01H01HH01H01VXXXXX" },  /* 三回目 */
{ "--0001XXXXX11L11LL11L11VXXXXX" },  /* 四回目 */
{ "--0001XXXXX00D00DD00D00VXXXXX" },  /* 拡張一回目(ハイインピーダンスLoテスト) */
{ "--0001XXXXX00U00UU00U00VXXXXX" },  /* 拡張二回目(ハイインピーダンスHiテスト) */

先頭からの２バイトは、以下つづくベクタの個数を示します。追加ベクタ分は数えません。これは先頭の１個にだけあります。
次の２バイトが被試験ＩＣのピン数を示します。この場合１４ピンです。
次の２バイトは、このチェックベクタの実行回数(現時点ではクロック実行のみ，１６進)を示します。
この次のバイトから３番ピン～２６番ピンまでの状態を表します。(ロジックＩＣは、２４ピンまで対応なので)
Ｘ：Ｄｏｎ’ｔ　ｃａｒｅ(処理しません)
０：Ｌｏを出力
１：Ｈｉを出力
Ｈ：Ｈｉレベルの入力が期待される
Ｌ：Ｌｏレベルの入力が期待される
Ｖ：Ｖｃｃ印加位置
Ｄ：プルダウンし、Ｌｏレベル入力が期待される
Ｕ：プルアップし、Ｈｉレベル入力が期待される
Ｃ：クロック出力
チェックが開始されると３番ピンの部分から順番にポートの方向と出力を変更し、同様に一つずつ入力して期待値と比較します。
期待値と異なった時点でチェックを終了し、ＮＧとします。一回分が正常に終了したら次のベクタに移動します。
ベクタ個数終了まで正常なら正常とします。追加ベクタの実行があればひきつづき実行します。

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